[Anritsu]안리쓰 머신러닝, 5G UE mmWave 3D EIS 스캔 시험 시간 최적화
- 2022-12-12
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2022/11/22
안리쓰는 머신러닝을 사용해 5G mmWave 3D EIS 스캔(EIS-CDF) 시험 시간을 최적화하는 '무선통신 테스트 스테이션' MT8000A에 '머신러닝을 활용한 EIS-CDF 최적화' 소프트웨어 옵션을 도입했다.
개발 배경
북미, 일본과 같은 선진국에서 고속 연결 5G mmWave(FR2) 서비스의 출시 속도가 빨라지고 있다. 이에 따라 향후 mmWave UE의 연구개발 및 conformance test가 활성화될 전망이다.
3GPP 표준은 OTA 테스트 환경에서 3D로 mmWave UE 안테나 특성 시험을 지정한다. 3D테스트는 많은 수 또는 측정 지점으로 인해 시간이 오래 걸린다.
이 긴 테스트 시간은 머신 러닝을 사용하여 크게 단축되며, 이는 mmWave UE가 일반화되는 데 대한 테스트 효율을 최적화할 것으로 기대된다.
제품 특징
MX800010A-026 소프트웨어 옵션은 테스트 효율을 높이기 위해 UE 안테나 특성을 자동으로 학습하여 안리쓰의 CATR 무반향 챔버 MA8172A를 사용한 3D EIS 스캔 시험을 지원한다. 동일한 UE에서 3D EIS 스캔을 여러 번 반복하면 테스트 효율이 최적화된다.
머신 러닝은 후속 학습 반복에서 두 mmWave UE 모델의 테스트 시간을 약 35%~60%* 최적화했다.
*이것은 예시일 뿐, 모든 UE에 대해 동일한 결과가 보장되는 것은 아님
제품 개요
일체형 MT8000A 플랫폼은 RF, 프로토콜, 응용 프로그램 작동 시험은 물론 빔 특성 검증 및 평가를 지원한다. MT8000A는 5G 칩셋과 UE 개발에 필요한 NSA(Non-Standalone)와 SA(Standalone) 기지국 동작을 모두 시뮬레이션하는 기능 외에도 5G FR1(600MHz, 2.5GHz, 3.5GHz, 4.5GHz, 6GHz 비면허)과 FR2(24GHz, 28GHz, 39GHz, 43GHz) 대역을 모두 지원한다.
CATR 무반향 챔버 MA8172A는 3GPP 규격의 CATR(Compact Antenna Test Range) 방식을 사용하여 좁은 공간에서 5G NR OTA 시험을 구현한다. 5G NR 칩셋과 UE의 mmWave 개발 및 conformance test에 사용할 수 있다.
